XRD室：NEXTRON XRD原位微探針系統(tǒng)

- 樣品： SrFe0.8Co0.2O2.5 on 001 SrTiO3

- 光束線：浦項加速器實驗室3D光束線

- 測量。在依次供應N2（2.5小時）、O2（6小時）和N2（2.5小時）的情況下進行實時XRD和電阻測量。流速為20 sccm。

- 結果：SrFe0.8Co0.2O2.5薄膜的晶格常數(shù)依次轉移到3.99埃（N2）、3.90埃（O2）和4.00埃（N2）。由于拓撲結構的轉變，觀察到了相關的電阻變化。

這項研究工作得到了 "釜山開放實驗室業(yè)務滿足市場需求 "項目的支持。